# 内存

  • ECC 内存

    ECC 内存分为普通 ECC 和 RECC。RECC 自带寄存器(单面 10 颗芯片),支持更多内存颗粒,容量更大、性能更高,但需 E5 及以上处理器支持。

    • RDIMM:标压内存,如 PC3-12800R;
    • LRDIMM:低压内存,如 PC3L-12800L。

# 颗粒

目前市场上,主流内存颗粒生产商是三星、海力士、镁光。

  • Rank

    Rank 是内存条上由一组颗粒构成的数据区域,一个 Rank 的颗粒可分布在内存条的两面。

    内存条可分为 Single-Rank(1R)、Dual-Rank(2R)和 Quad-Rank(4R)。x4 和 x8 指每个 Bank 的数据位宽。

    一个 Rank 的总数据位宽为 64 bit。因此,若每个 Bank 为 4 bit,则需 16 个 Bank;若为 8 bit,则需 8 个 Bank。例如,1Rx8 表示单 rank 且每个 Bank 为 8 bit。

# 频率

内存工作频率受到内存控制器的制约,从 11 代酷睿处理器开始,Intel 就紧跟 AMD 锐龙的步伐,引入「内存分频机制」。

Intel 12 和 13 代 Non-K CPU 会锁 SA 电压,使用 D4 内存频率超过 3200Mhz,大概率会进入 Gear 2 分频模式;使用 D5 内存频率推荐 6400MHz。

K CPU 使用 D4 内存,可上到 4000 Mhz;D5 内存根据主板的不同,可上到 7000 甚至是 8000+MHz。

读写速度 = 内存频率 * 64 * 通道数 / 8

# 时序

内存时序是描述内存条性能的一种参数,一般存储在内存条的 SPD 中。

缩写 全称 说明 影响性能的关键点
CL CAS Latency (列地址访问延迟) 从发送读指令到收到第一个数据的时间周期数。数值越低,数据响应越快 直接决定内存延迟,对性能最敏感。
tRCD RAS to CAS Delay (行到列延迟) 激活行地址后,需等待多久才能访问列地址的周期数。影响内存切换存储行的效率 过高会降低多任务处理的响应速度。
tRP RAS Precharge (行预充电时间) 关闭当前行地址后,需等待多久才能激活新行地址的周期数。影响内存切换存储行的速度 过高会导致行切换延迟增加。
tRAS Row Active Time (行激活时间) 行地址激活后必须保持开启的最短周期数。需满足:tRAS ≥ CL + tRCD + 2(否则会不稳定)。 过低导致数据错误,过高拖累带宽效率。

同频率下,CL 值越小内存条性能越好。从 DDR1 - DDR4 随着内存条的频率越来越高,CL 值也越来越大,但是其真实的 CL 延迟时间几乎没有什么变化。

乘 2 的原因是 DDR 内存一个时钟周期内传输两次数据,可以看做基数是 2

DDR-400 3-3-3-8:3*2/400 = 15 ns
DDR2-800 6-6-6-18:6*2/800 = 15 ns
DDR3-1333 9-9-9-24:9*2/1333 = 13.5 ns
DDR4-2133 15-15-15-35:15*2/2133 = 14 ns
DDR4-2400 17-17-17-39:17*2/2400 = 14 ns
DDR4-3200 22-22-22-52:22*2/3200 = 13.7 ns

# 超频

# 品牌